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                  日本電子技研iwatsu電容式位移計(jì)ST-3541

                  訪問(wèn)次數(shù):2003

                  更新日期:2024-03-17

                  簡(jiǎn)要描述:

                  日本電子技研iwatsu電容式位移計(jì)ST-3541
                  ST-3541采用“無(wú)源型",探頭中沒(méi)有內(nèi)置電路。因此,穩(wěn)定性大大提高。此外,由于沒(méi)有電路部件,因此緊湊且具有用于結(jié)合的z佳結(jié)構(gòu)。
                  它是納米位移測(cè)量,精密工作臺(tái)位置檢測(cè)/姿態(tài)控制,平面度和厚度測(cè)量的理想選擇。

                  日本電子技研iwatsu電容式位移計(jì)ST-3541
                  產(chǎn)地進(jìn)口

                  日本電子技研iwatsu電容式位移計(jì)ST-3541

                  ST-3541采用“無(wú)源型",探頭中沒(méi)有內(nèi)置電路。因此,穩(wěn)定性大大提高。此外,由于沒(méi)有電路部件,因此緊湊且具有用于結(jié)合的z佳結(jié)構(gòu)。
                  它是納米位移測(cè)量,精密工作臺(tái)位置檢測(cè)/姿態(tài)控制,平面度和厚度測(cè)量的理想選擇。

                  特征

                  出色的高穩(wěn)定性

                  下圖是在25測(cè)量在恒溫浴組穩(wěn)定性的一例℃。
                  您可以看到已經(jīng)進(jìn)行了12小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定測(cè)量。

                  [圖] ST-3541 + ST-0403-100穩(wěn)定性數(shù)據(jù)

                  實(shí)現(xiàn)高分辨率測(cè)量

                  z大分辨率0.3nm-rms下
                  圖顯示了由步進(jìn)電信號(hào)驅(qū)動(dòng)的壓電元件的位移。
                  即使只有1 nm的小步進(jìn)信號(hào),也可以很好地檢查響應(yīng)。

                  • 1nm步進(jìn)
                    波形:頻率0.15Hz步進(jìn)寬度1nm。
                    頻段設(shè)定:100Hz

                  線性度0.05%

                  通過(guò)使用不需要線性化器的測(cè)量方法,可以實(shí)現(xiàn)出色的線性度。


                  • 較小的探頭使安裝更容易由于探頭主體沒(méi)有內(nèi)置電路,因此尺寸已大大減小。
                    這大大擴(kuò)展了結(jié)合到測(cè)量系統(tǒng)中的自由度。

                  • 使用的連接電纜,可以
                    在通道之間進(jìn)行同步操作。即使使用多臺(tái)設(shè)備,也可以通過(guò)連接通道進(jìn)行同步操作。同步操作可防止通道之間的干擾并穩(wěn)定測(cè)量結(jié)果。

                  • 您可以減少系統(tǒng)構(gòu)建的成本。
                    當(dāng)使用多個(gè)通道時(shí),只有通過(guò)按需供電才可以擴(kuò)展,因此可以降低系統(tǒng)構(gòu)建成本。

                  可以在真空中進(jìn)行測(cè)量

                  通過(guò)使用與真空兼容的定制探頭,可以測(cè)量真空中的位移。

                  [圖]自定義真空探針

                  日本電子技研iwatsu電容式位移計(jì)ST-3541

                  應(yīng)用領(lǐng)域

                  • 精密定位,位置檢測(cè),半導(dǎo)體的姿態(tài)控制,精密處理,顯微鏡等

                  • 壓電元件的振動(dòng)和振幅測(cè)量等

                  • 硅片,金屬板,精密加工零件等的平面度和厚度測(cè)量

                  • 測(cè)量軸跳動(dòng),表面跳動(dòng)和精密電機(jī)的圓度等

                  • 納米位移測(cè)量


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