實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品高精度測量的反射率測量裝置MSP-100介紹

發(fā)布日期：2024-06-05      瀏覽次數(shù)：838

實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品高精度測量的反射率測量裝置MSP-100介紹






• 通過使用特殊的半反射鏡，可以減少背面反射光，無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
  （可測量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時）

• 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點（φ50μm））

• 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量，并且具有高重復性。（光學設計捕獲最大量的光，512元件線性PDA，
  內置16位A/D轉換器，USB 2.0接口高速計算實現(xiàn)快速測量。）

• 可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測量物體。

• 數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

• 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

• 具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。

規(guī)格

型號	MSP-100
測量波長	380～1050nm
測量重復性	±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm)
樣品面 NA	NA 0.12（使用 10 倍物鏡時）
樣品測量范圍	φ50μm（使用10倍物鏡時）
樣品曲率半徑	-1R~-無窮大, +1R~無窮大
顯示分辨率	1納米
測量時間	幾秒到十幾秒（取決于采樣時間）
外形尺寸	(寬)230×(高)560×(深)460mm（僅機身）
工作溫度限制	18～28℃
工作濕度	60%以下（無凝露）