seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 光學(xué)測量儀

seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1655    

日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 光學(xué)測量儀

日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1674    

日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學(xué)測量儀

日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1559    

日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學(xué)測量儀

日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1593    

日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學(xué)測量儀

日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1489    

日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠碨IS-150

日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠碨IS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1945    

SIS-150（-NIR / -AIR）日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠?光學(xué)測量儀

日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠碨IS-150（-NIR / -AIR） 一種在近紅外區(qū)域具有峰值的光纖光源設(shè)備。 通過將其與專yong光學(xué)系統(tǒng)和對近紅外區(qū)域敏感的相機(jī)配合使用，它非常適合無損檢測，例如Si晶圓的內(nèi)部檢測和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-19    訪問量：2360