日本Shinkuu磁控離子濺射儀選型指南

發(fā)布日期：2025-07-16      瀏覽次數(shù)：269

磁控離子濺射儀是電子顯微鏡（SEM/TEM）樣品制備、半導體檢測及材料研究的關(guān)鍵設備。日本Shinkuu（真空）系列濺射儀憑借高精度鍍膜、多樣化靶材支持以及不同型號適配各類應用場景，成為科研和工業(yè)領(lǐng)域的優(yōu)選。以下為選型關(guān)鍵要點及推薦型號：

一、選型核心考量因素

1. 觀察倍率需求

• 低倍率（1,000~10,000倍）：Au靶（金）或Au-Pd（金鈀）鍍膜，適用于常規(guī)SEM觀察。

• 中高倍率（10,000~100,000倍）：Pt（鉑）或Pt-Pd（鉑鈀）鍍膜，顆粒更細，成像更清晰。

• 超高倍率（100,000倍以上）：W（鎢）靶，粒徑極細，適用于納米級分辨率觀察。

2. 樣品類型與尺寸

• 小型樣品（SEM/TEM）：MSP-mini或MSP-1S，適用于φ30mm以下樣品。

• 4英寸晶圓或大尺寸樣品：MSP-20MT（4英寸）或MSP-200in/MSP-300in（8/12英寸晶圓）。

• 復雜結(jié)構(gòu)樣品（如生物樣本）：需考慮Os（鋨）鍍膜機，因其優(yōu)異的環(huán)繞性。

3. 自動化與操作便捷性

• 一鍵式操作：MSP-mini、MSP-1S適合快速鍍膜需求。

• 全自動功能：MSP-20UM（可編程自動鍍膜）、MSP-40T（渦輪泵高真空自動沉積）。

4. 真空系統(tǒng)與冷卻方式

• 基礎實驗室：內(nèi)置旋轉(zhuǎn)泵（MSP-1S）。

• 高真空需求：渦輪分子泵（MSP-40T）。

• 防止樣品熱損傷：風冷磁控靶（MSP-20TK）。

二、推薦型號及適用場景

型號	關(guān)鍵特點	適用場景	推薦靶材
MSP-mini	超小型設計，一鍵操作，低成本運行	光學顯微鏡（Ag）、臺式SEM預處理	Au（標準）、Ag（可選）35
MSP-1S	內(nèi)置旋轉(zhuǎn)泵，緊湊型，適合貴金屬鍍膜	SEM樣品（50,000倍以下）	Pt、Au、Au-Pd2
MSP-20UM	可調(diào)參數(shù)，傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺，全自動鍍膜	復雜形狀樣品、高精度SEM觀察	Pt、Pt-Pd、W1
MSP-20TK	專為鎢濺射優(yōu)化，支持超高分辨率SEM（100,000倍以上）	納米材料、高分辨電鏡樣品	W（鎢）1
MSP-200in	8英寸晶圓鍍膜，提高檢測效率	半導體制造、大面積樣品	Au、Pt、ITO1
MSP-300in	12英寸晶圓鍍膜，工業(yè)級應用	集成電路（IC）檢測	多種金屬靶材1
MSP-40T	高性能實驗室沉積，支持多種金屬（Ti、Al、ITO等），渦輪泵高真	前沿研究、高純度薄膜	多金屬可選4

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三、選型總結(jié)

• 實驗室常規(guī)SEM樣品：MSP-1S（性價比高）或MSP-20UM（功能全面）。

• 超高分辨率觀察：MSP-20TK（鎢靶）或MSP-40T（多金屬支持）。

• 半導體/晶圓鍍膜：MSP-200in（8英寸）或MSP-300in（12英寸）。

• 快速簡易操作：MSP-mini（超小型，一鍵鍍膜）。